會議主題: 材料及礦物前處理技術
會議時間: 2014年12月22日 14:30-16:30
主講人: 何廣磊 培安公司材料分析制備產品
會議介紹: 隨著XRF、IR、AA、ICP等終端檢測儀器在自動化、模塊化方面的進步,材料元素檢測越來越,誤差也越來越小,終端儀器已不再是檢測誤差產生的關鍵。越來越多的事實證明,分析的誤差主要來自于樣品前處理。材料及礦物樣品的采樣和制樣技術,對分析實驗結果有著更大的影響,本文將從研磨、球磨到壓片和熔片等材料樣品前處理技術進行講解,通過對各種研磨、壓片、熔片原理和技術進行比較,談一談如何能使我們更快的得到更、更均勻,符合我們實驗要求的樣品。
現場還有答疑和討論時間,為大家提供與資深工程師進一步交流的機會。
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